專業的半導體測試解決方案與探針卡技術服務
引領科技創新，驅動產業未來
致力於提供最專業的半導體測試解決方案，推動科技產業進步
持續投入研發，運用最新的技術與設備，為客戶提供最優質的測試解決方案，確保產品品質與效能。
擁有豐富經驗的專業團隊，深入了解半導體產業需求，為客戶提供全方位的技術支援與諮詢服務。
立足台灣，放眼全球，與國際先進技術接軌，為客戶帶來世界級的服務品質與解決方案。
提供全方位的半導體測試解決方案
專業的半導體測試服務，確保產品品質與可靠性，協助客戶提升競爭力與市場表現。
先進的探針卡設計與製造技術，提供高效能、高精度的測試解決方案，滿足各種測試需求。
客製化的測試解決方案設計與實施，針對不同產品特性提供最適切的測試策略與方法。
專業的技術諮詢服務，協助客戶解決測試過程中的各種技術難題，提供最佳實務建議。
完善的設備維護與保養服務，確保測試設備持續穩定運作，延長設備使用壽命。
專業的技術培訓課程，提升客戶團隊的技術能力，確保測試作業的專業品質。
我們的專業產品與解決方案
型號：PRIMA MEMS-CIS
整合攝像鏡頭與光源的高階微懸臂探針卡，可在模擬條件下對 CMOS 影像感測器進行高精度成像性能驗證與優化，實現卓越的影像品質測試能力。
型號：OPTIMA MEMS-VPC
全球首款微間距高電流 MEMS 垂直探針卡專為大規模生產製造而設計，樹立 MEMS 探針卡的新標準，滿足晶圓級測試的最新趨勢與需求。
型號：TITAN MEMS-WAT
針對奈米級製程節點量身打造，完美適用於終端測試、在線／製程參數測試及可靠性測試，包括 HCI、TDDB 與 EM 等項目。
型號：ZEUS RF-MPC
支援高達 40 GHz 的頻率，根據客戶特定需求設計的客製化測試設備，提供最適切的測試解決方案，滿足各種應用場景。
領先業界的技術實力
讓我們協助您實現測試目標
+886-3-558-3530
(台灣境內請撥 03-558-3530)
sales@trendwin-tech.com
新竹縣竹北市光明六路150之1號六樓