專業的半導體測試解決方案與探針卡技術服務
引領科技創新,驅動產業未來

Semiconductor Testing Probe Card Technologies Advanced Solutions

關於我們

致力於提供最專業的半導體測試解決方案,推動科技產業進步

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創新技術

持續投入研發,運用最新的技術與設備,為客戶提供最優質的測試解決方案,確保產品品質與效能。

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專業團隊

擁有豐富經驗的專業團隊,深入了解半導體產業需求,為客戶提供全方位的技術支援與諮詢服務。

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全球視野

立足台灣,放眼全球,與國際先進技術接軌,為客戶帶來世界級的服務品質與解決方案。

服務項目

提供全方位的半導體測試解決方案

探針卡技術

先進的探針卡設計與製造技術,提供高效能、高精度的測試解決方案,滿足各種測試需求。

測試解決方案

客製化的測試解決方案設計與實施,針對不同產品特性提供最適切的測試策略與方法。

技術諮詢

專業的技術諮詢服務,協助客戶解決測試過程中的各種技術難題,提供最佳實務建議。

設備維護

完善的設備維護與保養服務,確保測試設備持續穩定運作,延長設備使用壽命。

培訓服務

專業的技術培訓課程,提升客戶團隊的技術能力,確保測試作業的專業品質。

產品展示

我們的專業產品與解決方案

產品一

2.5D/3D MEMS 圖像傳感器探針卡

型號:PRIMA MEMS-CIS

整合攝像鏡頭與光源的高階微懸臂探針卡,可在模擬條件下對 CMOS 影像感測器進行高精度成像性能驗證與優化,實現卓越的影像品質測試能力。

產品二

MEMS 垂直探針卡

型號:OPTIMA MEMS-VPC

全球首款微間距高電流 MEMS 垂直探針卡專為大規模生產製造而設計,樹立 MEMS 探針卡的新標準,滿足晶圓級測試的最新趨勢與需求。

產品三

2.5D/3D MEMS 微懸臂探針卡

型號:TITAN MEMS-WAT

針對奈米級製程節點量身打造,完美適用於終端測試、在線/製程參數測試及可靠性測試,包括 HCI、TDDB 與 EM 等項目。

產品四

高頻/射頻薄膜探針卡

型號:ZEUS RF-MPC

支援高達 40 GHz 的頻率,根據客戶特定需求設計的客製化測試設備,提供最適切的測試解決方案,滿足各種應用場景。

產品五

Fan Heatpipe Lid

最大散熱能力 ≤ 100W

本產品採用高效率熱導管(Heatpipe)與主動式風冷設計,可有效處理最高 100W 熱負載,適用於高功率電子模組與半導體設備應用。

產品六

Fan Heatpipe Lid

最大散熱能力 > 100-300W

本產品採用高效率熱導管(Heatpipe)結合主動式風冷設計,提供穩定且高效的熱管理能力適用於中功率電子模組與工業設備應用。透過優化的熱傳路徑設計,可快速將熱源導出並均勻散熱,有效降低元件溫升,提升系統穩定性與使用壽命。

產品七

Fan Heatpipe Lid

最大散熱能力 > 300-600W

針對高熱負載應用設計,本產品具備多組熱導管與強制風冷系統,適用於高功率半導體設備與工業電子系統。其強化型散熱結構可有效提升熱傳效率與空氣對流效果,確保設備在長時間高負載運作下仍維持穩定溫度控制。

產品八

Fan Heatpipe Lid +3DVC Lid

最大散熱能力 > 300-600W

本產品結合熱導管與 3D 均溫板技術,提供高效率且均勻的散熱效果,適用於高熱密度應用。可快速擴散熱量、降低溫差,減少局部過熱風險,提升系統穩定性與元件壽命。

技術優勢

領先業界的技術實力

99.9%
測試準確度
500+
合作客戶
15+
年經驗
24/7
技術支援

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